FISCHERSCOPE X-RAY XDL240菲希爾

FISCHER 的臺(tái)式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù)，能提供的性能和靈活性。由于運(yùn)用了各種測量技術(shù)，因此能夠?yàn)槿魏螠y量任務(wù)提供合適的解決方案。臺(tái)式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

菲希爾手持式X射線測厚儀XAN500

一臺(tái)儀器，三種作業(yè)模式：XAN®500不只是一臺(tái)手持便攜式XRF設(shè)備，它還可以轉(zhuǎn)變?yōu)榕_(tái)式儀器或者整合到生產(chǎn)線中。

MMS PC2

采用不同測量技術(shù)的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關(guān)的各種需求。

菲希爾庫倫法測厚儀CMS2

臺(tái)式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計(jì)的

XAN

用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。

XUL / XULM

基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅(jiān)固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。